“基于ATE的集成电路测试技术”

　　随着IC产业的飞速发展，IC的复杂度及其电气参数的性能也日益提高，同时也给IC测试带来了众多挑战，其中测试的精确度及稳定性是一直困扰工程师的两大难题，尤其在量产ATE测试时表现更为突出，也成为当下IC产业高居不下的热点话题。


　　2014年3月6日，上海市研发公共服务平台管理中心联合上海华岭集成电路技术股份有限公司(上海集成电路测试专业技术服务平台)在徐汇区钦州路100号1号楼12楼举办了主题为“基于ATE的集成电路测试技术”的培训会。培训邀请到现任上海华岭集成电路技术股份有限公司副总经理，高级工程师刘远华女士及上海华岭集成电路技术股份有限公司技术总监，高级工程师祁建华先生担任主讲嘉宾，与前来参会的从事集成电路产品设计和测试的相关技术人员共同探讨集成电路测试趋势以及基于ATE的集成电路测试技术。